三坐標探測系統

提供Hexagon-TESA、Leitz完善的測量機用測頭、測座、測頭更換架及附件，融合探測系統領域前沿科技，可實現高精度觸發式、掃描式、非接觸式測量，充分展示了坐標測量探測技術的*新發展。

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三坐標探測系統，高度創新的光機電設計，使得測頭系統能夠探測到X，Y和Z方向納米級的位移量，并保持非常低的重復性誤差和3D形狀誤差。
經過專業嚴謹設計和制造的全系列標準配置，能夠完成各種快速而準確的測量。
■ 技術先進
■ 操作準確可靠
■ 應用靈活性非常強，并具備杰出的用戶效能
■ 全面兼容各種測量機產品
■ 快速有效的互換特性
■ 根據生產需要，利用擴展模塊優化測量系統
■ 穩定的結構，高承載能力
■ 適應工業環境的優異耐久性


HH-T 手動探測系統關節式測座，可手動轉動到任何角度，內置觸發測頭，觸測力可調，是小型測量機的理想選擇。	HH-Mi 手動分度探測系統可重復分度并整合高精度觸發測頭。可以在兩個方向上實現15° 分度，而不需要重新校準。	HH-A / HH-AS8 自動探測系統高性能、高速、高可靠性自動測座，提供了5°和7.5° 兩種分度方式。AS8可以安裝在Z軸內部。

HH-A-H2.5 自動探測系統具有長攜帶能力，大可攜帶750mm加長桿，支持觸發、掃描及激光測頭。2.5度的精度分度。	HP-S-X1 掃描探測系統完善的系統配備，為通用測量任務提供多種選擇。包括手動、自動測座、模塊化測頭、更換架、探針、加長桿等。	HP-S-X3 掃描探測系統緊湊、高性價比、高準確度的三維固定式掃描測頭，可配置長達360 mm的加長桿和探針組。

HP-S-X5 掃描探測系統高承載、全三維、固定式掃描測頭，即使在攜帶*長加長桿的情況下也可保證達到很快的速度和很高的精度。	LSP-S2 掃描探測系統 LSP-S2 始終提供高等級的精度，探針加長可達到800mm，是高精度完成深孔類特征的測量。	HP-C-VE 光學測頭 HP-C-VE能夠安裝在測量機上，實現了大尺寸部件上面微小特征的放大測量。

HP-L-10.6 激光掃描測頭功能完善的交鑰匙方案，通過快速點云采集，實現了與CAD 比較測量、自由曲面檢測以及逆向工程等任務。	Precitec LR 高精光學測頭可與HP-S-S2 配合使用，能夠適應任何類型的表面測量任務，光圈在90°±40°范圍方向可調。	HP-L-20.8 激光掃描測頭專用于關節臂測量機的掃描測頭。自動實現光強調整，為復雜形狀和各種材料的掃描提供了準確可靠方案。

相關產品: Romer 71系列絕對關節臂測量機; 海克斯康7軸絕對臂測量機; 海克斯康Compact絕對臂測量機; 海克斯康管件檢測系統; GLOBAL S 頂配全能型系列橋式三坐標測量機; Global Mini 緊湊結構下的高精度系列橋式三坐標測量機; Explorer系列海克斯康通用型三坐標測量機; Leitz PMM-C 高精度三坐標測量機; Leitz Reference HP 高精高效型橋式測量機; Leitz Reference Xi海克斯康橋式測量機; 雷尼紹三坐標測針; TP200觸發式測頭; 雷尼紹TP20觸發式測頭; PH20雷尼紹五軸觸發式系統; SP25M雷尼紹掃描測頭


HH-T 手動探測系統關節式測座，可手動轉動到任何角度，內置觸發測頭，觸測力可調，是小型測量機的理想選擇。	HH-Mi 手動分度探測系統可重復分度并整合高精度觸發測頭。可以在兩個方向上實現15° 分度，而不需要重新校準。	HH-A / HH-AS8 自動探測系統高性能、高速、高可靠性自動測座，提供了5°和7.5° 兩種分度方式。AS8可以安裝在Z軸內部。

HH-A-H2.5 自動探測系統具有長攜帶能力，大可攜帶750mm加長桿，支持觸發、掃描及激光測頭。2.5度的精度分度。	HP-S-X1 掃描探測系統完善的系統配備，為通用測量任務提供多種選擇。包括手動、自動測座、模塊化測頭、更換架、探針、加長桿等。	HP-S-X3 掃描探測系統緊湊、高性價比、高準確度的三維固定式掃描測頭，可配置長達360 mm的加長桿和探針組。

HP-S-X5 掃描探測系統高承載、全三維、固定式掃描測頭，即使在攜帶*長加長桿的情況下也可保證達到很快的速度和很高的精度。	LSP-S2 掃描探測系統 LSP-S2 始終提供高等級的精度，探針加長可達到800mm，是高精度完成深孔類特征的測量。	HP-C-VE 光學測頭 HP-C-VE能夠安裝在測量機上，實現了大尺寸部件上面微小特征的放大測量。

HP-L-10.6 激光掃描測頭功能完善的交鑰匙方案，通過快速點云采集，實現了與CAD 比較測量、自由曲面檢測以及逆向工程等任務。	Precitec LR 高精光學測頭可與HP-S-S2 配合使用，能夠適應任何類型的表面測量任務，光圈在90°±40°范圍方向可調。	HP-L-20.8 激光掃描測頭專用于關節臂測量機的掃描測頭。自動實現光強調整，為復雜形狀和各種材料的掃描提供了準確可靠方案。

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三坐標探測系統

HH-T 手動探測系統

HH-Mi 手動分度探測系統

HH-A / HH-AS8 自動探測系統

HH-A-H2.5 自動探測系統

HP-S-X1 掃描探測系統

HP-S-X3 掃描探測系統

HP-S-X5 掃描探測系統

LSP-S2 掃描探測系統

HP-C-VE 光學測頭

HP-L-10.6 激光掃描測頭

Precitec LR 高精光學測頭

HP-L-20.8 激光掃描測頭