無損(sun)檢(jian)測是指(zhi)在不損(sun)害(hai)(hai)或(huo)不影響被檢(jian)測對(dui)象(xiang)使用(yong)性(xing)能、不傷害(hai)(hai)被檢(jian)測對(dui)象(xiang)內(nei)部組織的前(qian)提下，利用(yong)材料內(nei)部結構(gou)(gou)異常或(huo)缺陷(xian)存在引起的熱(re)、聲、光、電、磁等(deng)反應(ying)的變(bian)化(hua)，以物理(li)或(huo)化(hua)學方(fang)(fang)法為手段，借(jie)助現代化(hua)的技術和(he)設(she)備器材，對(dui)試件內(nei)部及表面(mian)的結構(gou)(gou)、性(xing)質、狀態及缺陷(xian)的類型、性(xing)質、數量、形狀、位置(zhi)、尺寸、分布及其變(bian)化(hua)進行非破(po)壞檢(jian)查和(he)測試的方(fang)(fang)法。
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測量技(ji)(ji)術是(shi)一門(men)具有自身專業體系、涵蓋多(duo)種(zhong)學科、理論性和實(shi)踐性都非常強的前沿科學。而熟知測量技(ji)(ji)術方(fang)面的基本知識，則是(shi)掌握測量技(ji)(ji)能，獨立完成對(dui)機(ji)械產品幾(ji)何(he)參數測量的基礎。
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物(wu)(wu)(wu)理(li)(li)化學(xue)分(fen)析(xi)或儀器(qi)分(fen)析(xi)是基于物(wu)(wu)(wu)理(li)(li)或物(wu)(wu)(wu)理(li)(li)化學(xue)原理(li)(li)和物(wu)(wu)(wu)質的(de)物(wu)(wu)(wu)理(li)(li)或物(wu)(wu)(wu)理(li)(li)化學(xue)性質而建立起來(lai)的(de)分(fen)析(xi)方法(fa)。也(ye)就是以測(ce)量物(wu)(wu)(wu)質的(de)物(wu)(wu)(wu)理(li)(li)性質為基礎(chu)的(de)分(fen)析(xi)方法(fa)。所以,與化學(xue)分(fen)析(xi)法(fa)比較,也(ye)可以叫(jiao)做(zuo)"物(wu)(wu)(wu)理(li)(li)分(fen)析(xi)法(fa)"或"物(wu)(wu)(wu)理(li)(li)化學(xue)分(fen)析(xi)法(fa)"。
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光學測量是光電(dian)技術與機(ji)械測量結合的(de)高科技。借用(yong)計算(suan)機(ji)技術，可以實現快速，準確的(de)非接觸測量。方便記錄，存儲，打(da)印，查詢等等功能。
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