將Leitz高性能的掃描技術應用于新型Leitz Reference Xi橋式測量機,提供了豐富的測量選擇:從連接自動旋轉測座TESASTAR-m的LSP-X1掃描探測系統,到配備固定式掃描探測系統LSP-X3c 一直到LSP-X5,能夠在配備加長探針的情況下保持高精度。
Leitz Reference Xi – “Xi” 代表著系統具備充分的“靈活性”。
應用 |
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可提供的接口: |
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Gleason GAGE 4/WIN、Klingelnberg KIMOS、bevel-gear-chain from Univ. of Aachen |
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評價標準: |
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DIN、ISO、AGMA、ANSI、JIS、CNOMO、CAT |
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