斯派克的ICP-OES和XRF光譜儀的應用多種多樣，從工業基礎設施到整個化工行業的分析應用。
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SPECTRO ARCOS |
SPECTRO XEPOS |
SPECTRO GENESIS |
SPECTROSCOUT |
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● 以一當二特別的MultiView等離子儀器，同一臺儀器同時具備真正軸向與真正徑向等離子觀測 ● ORCA光學系統: 130-770nm波長范圍內光譜的元素同時測定，靈敏度五倍于Echelle系統——提供紫外線/真空紫外線范圍的同級*佳性能 ● LDMOS發生器：功率高達2000瓦，足以輕松處理揮發性有機物和高濃度溶解固體 |
● *高靈敏度: 適應性激發、射線管和檢測器技術的創新大幅改善靈敏度--通常達到10倍或更高--明顯提高準確性，大幅降低檢測水平，為鈉到鈾等多種元素提供快速準確的分析。 ● 很高的準確性:不同于大多ED-XRF元素分析儀，SPECTRO XEPOS光譜儀的X射線管可在兩次測量之間保持通電，防止開關變化影響讀數。 ● 測量速度更快:對于對速度的要求大過高準確度的用戶來說，SPECTRO XEPOS分析儀能顯著縮短測量時間，但同時能維持傳統ED-XRF光譜儀的準確度水平。 |
● 順序型ICP和FAA的強大替代產品： 同時檢測175-770nm波長范圍內的所有元素，每天能分析多達700份樣本 ● 穩固的自有運轉27 MHz發生器非常適用于有機和較高無機基體應用 ● 低運行成本：低至0.5升/分鐘的光學凈化，無需水冷 |
● 輕型便攜式貴金屬合金元素分析一；點大小僅為1毫米 ● 現場快速完成: 巖石、沉淀物和土壤的元素分析。始于鈉的元素范圍，相關痕量元素的檢測限遠低于其他便攜式和手持式XRF儀器 ● 在生產線附近：應用特定包的高效率。占地面積小，強大的分析能力。 |
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斯派克生產先進的儀器，并為各種應用中的元素分析開發*佳解決方案。 在世界各地，元素分析正繼續快速發展，甚至常規操作都需要極端準確性、復雜的系統要求以及不斷擴大的應用領域。斯派克在這個領域的進步和發展中走在前列，提供新的解決方案和持續的創新。 |
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