FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD
FISCHERSCOPE®X-RAY XDV-SDD系列是Fischer的高級產品線之一。 它配備了具有高能量分辨率的硅漂移檢測器。 結合大口徑,XDV-SDD系列可實現出色的測量結果。 大型,易于接近的測量室使其既適用于組件上的fl的測量,也適用于幾何形狀復雜的大型樣品。
FISCHERSCOPE X-RAY XDV -SDD是Fischer強大的X射線設備之一。它的硅漂移檢測器對輕元素的X射線輻射很敏感。這允許非常低的檢測限以及與NiP,RoHS和非常薄(<0.05 μm)的薄膜有關的測量應用。這就是XDV -SDD在研發,實驗室和過程認證設置中表現出色的原因。另外,它的易用性使其在生產控制中很重要。
NiP / Fe:P濃度和層厚
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鈍化層:Cr / Zn / Fe
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XDV-SDD系統特別適合于痕量分析和污染物限值的快速監控。例如,在塑料中,它可以用來檢測關鍵化學元素,例如Pb,Hg和Cd,其檢測限僅為幾ppm。
特點:
● 配備了高性能的X射線管和大窗口的硅漂移探測器(SDD),能高精度地測量很薄的鍍層
● 很耐用的設計結構,能以非常出色的長期穩定性用于連續測量
● 可編程XY平臺和Z軸,用于自動化連續測量
● 擁有實時的視頻顯示和輔助激光點,使得樣品定位變得快速而簡便
應用
鍍層厚度測量
? 測量非常薄鍍層,如電子和半導體產業中厚度小于0.1um的Au和Pd鍍層
? 測量汽車制造業中的硬質涂層
? 光伏產業中的鍍層厚度測量
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材料分析
? 電子、包裝和消費品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令對有害物質(如重金屬)進行鑒別
? 分析黃金和其他貴金屬及其合金
? 測定功能性鍍層的組分,如NiP鍍層中的P含量
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