巴克豪森噪音渦流顯微鏡 BEMI

形勢背景

   材料特性(xing)及其局部分(fen)布的(de)認知(zhi)對(dui)于金屬材料或(huo)分(fen)層系統的(de)開(kai)發和優化(hua)非常重要。多參(can)數微(wei)磁測試方法BEMI的(de)應(ying)用(yong)提供(gong)了表征(zheng)材料特性(xing)或(huo)具有高空間分(fen)辨率的(de)多層系統分(fen)析的(de)能(neng)力。

BEMI (巴克豪森噪(zao)音(yin)和渦流顯微鏡(jing))的組件

   ■ 基于3MA技術的檢測主機（3MA：微磁多參數微結構和應力分析）：一種功能強大的測試設備，用于材料和分層系統的微磁特性表征；
   ■ 具有高空間分辨率的特殊探頭：具有約20μm空間分辨率的電磁特性；
   ■ 掃描機：在預定的X和Y位置步進掃描樣品表面；
   ■ 計(ji)算機：控制掃(sao)描儀，數據采集，結(jie)果可視(shi)化和評估(gu)；

特殊技(ji)術與(yu)原理

   基于3MA技術的檢測主體設備，結合了四種微磁方法：切向磁場強度的諧波分析，巴克豪森噪聲信號分析，增量磁導率分析，多頻渦流阻抗分析。
   這(zhe)些(xie)(xie)方(fang)法(fa)在數(shu)個測試頻(pin)率上的綜(zong)合(he)應用(yong)，提供了(le)四十多種微(wei)磁特(te)(te)性(xing)(xing)(xing)，這(zhe)些(xie)(xie)特(te)(te)性(xing)(xing)(xing)與材料(liao)結構和分(fen)(fen)(fen)層系(xi)統的特(te)(te)性(xing)(xing)(xing)相關。多參(can)數(shu)方(fang)法(fa)中(zhong)微(wei)磁特(te)(te)性(xing)(xing)(xing)的組合(he)使得能夠(gou)分(fen)(fen)(fen)離交叉重(zhong)疊的影響，例如應力(li)和涂鍍層厚度。這(zhe)些(xie)(xie)微(wei)磁特(te)(te)性(xing)(xing)(xing)分(fen)(fen)(fen)布(bu)的圖像提供了(le)有(you)關材料(liao)均(jun)勻性(xing)(xing)(xing)的主(zhu)要信(xin)息。此外，多個樣品特(te)(te)性(xing)(xing)(xing)的比較允許對材料(liao)或分(fen)(fen)(fen)層的特(te)(te)性(xing)(xing)(xing)，進行差異定(ding)性(xing)(xing)(xing)評估。

   歸根結底，在使用具有明確特征的(de)樣(yang)品(pin)進行一次(ci)校準(zhun)之(zhi)后(hou)，BEMI可以定量(liang)確定材料和分層(ceng)的(de)性能，并(bing)將其(qi)分布顯(xian)示為圖像，而且可以同時確定幾(ji)個目標值。

應用領域

   ? 對包含至少一種金屬成分的所有材料或分層系統進行具有高空間分辨率的材料表征和優化。
   ? 檢查微觀結構或分層的均勻性。
   ? 應力分布成像。
   ? 確定任何基材上的金屬和/或鐵磁的頂層厚度。
   ? 確定鐵磁基材上非鐵磁頂層的厚度。
   ? 多層(ceng)的表(biao)征(zheng)。

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