關于正確的校準，我們在下面為您總結了一些重要的問題和解答。
涂層測厚儀的校準
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Q: 比較測量值時應考慮哪些統計參數？
A: 以下參數對于比較測量值很重要：算術平均值、標準偏差、單個測量值的數量。
如果沒有相關的標準偏差和測量的數量，則無法以有意義的方式相互比較平均值。
Q: 為什么需要校準？
A: 每種物理測量方法都受涂層和基體參數的影響。這些參數是：工件的幾何形狀、電導率、磁化率、鍍層密度、測量表面等。
每次涂層或基材的這些參數發生變化時，都需要重新校準測量儀器。
Q: 我正在一塊平板上校準我的測量儀器。現在我想測量一個小直徑的曲面樣品。在不進行任何進一步校準的情況下，是否可以繼續？
A: 不行，在平板上的校準會在曲面上引起系統上的測量誤差。這意味著測量值將過大。這是因為儀器對樣品（這里是曲面物體）的測量信號進行了評估，但是以平面樣品進行的評估。
Q: 為什么雙方會得到不同的測量結果？原因是什么？
A: 計量器具的精度由校準片保證。校準須在真實、無涂層的樣品上進行。此外，須注意在相同的測量位置進行測量。為了得到一個有效的平均值，進行足夠多次的測量也是很重要的。
Q: 如何驗證干膜測厚儀測試的校準效果？
A:通過把校準箔放在樣品基材上進行測量來檢查校準效果。這個測量位置須要與你之后要測量的位置相同。Fischer隨機配備的基材校準板并不適用于此目的。
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XRF光譜儀的校準
Q: 如何在FISCHER X射線儀器上驗證校準結果是否準確？
A: 為了驗證校準結果，您需要在菜單“產品”位置選擇“測試標準片”。如果你發現存在差值，則儀器需要再次校準。
Q: 我的FISCHER X射線儀器測出了看上去不合理的數值。我如何確定我測的是對的？
A: 接下來您應該進行設備管控。您可以通過重新測試標準片來檢查儀器。如未得到正確的數值，則需要進行調整。
Q: 對于FISCHER X射線儀器而言，基準測量意味著什么？
A: 基準測量是對能量軸的一次新的校準。在不同溫度的影響下，與比例接收器的校準有關。
Q: 何時對FISCHER X射線儀器進行歸一化？
A: 歸一化會對當前測量任務的設置和基材設定進行調整。如果主濾波器或陽極電流以及準直器的設置被調整過了，則須進行歸一化。如被測樣品的合金成分或基材成分發生了變化，也需進行歸一化。
Q: 在歸一化和校準過程中如果儀器顯示“標準片基材和產品底材”，接下來應該怎么操作？
A: 在這里，WinFTM是在要求測量基材材料。請將校準標準片中無鍍層的基材和被測樣品還未進行電鍍的基材進行放置和測量。注意：如果儀器上放置了錯誤的東西，這會嚴重影響結果的正確性！
Q: 在校準時能否疊加X射線標準箔？
A: 是可以的。有一個簡單的使用準則：對于配備比例接收器的儀器，可以疊加2-3片標準箔。對于帶有PIN/SDD探測器的儀器，只可以疊加一片標準箔。
Q: FISCHER X射線標準片的重新認證周期是多少？
A: 這取決于使用頻率，客戶可自行決定。一般為1-3年一次。
Q: 是否需要為FISCHER X射線儀器的純元素片進行重新認證？
A:不是必要的。你不需要重新認證純元素塊，因為元素的厚度是飽和的，所以非常穩定。
Q: 對標準片而言，生產廠商出具的證書和ISO 17025證書有什么區別？
A: 具有ISO 17025證書的校準標準片是按照認證機構定義的嚴格程序進行測量的；與制造商證書的校準標準相比，它們的測量不確定性更小。
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